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NS系列半导体台阶高度测量仪器可精准测量台阶高度（纳米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等参数）、膜层厚度及应力分布，为材料研发、工艺优化与质量管控提供可靠数据支持。广泛应用于半导体、光伏、MEMS、光学加工等领域。

VT6000高精度共聚焦显微镜基于共聚焦技术，结合精密Z向扫描与智能3D建模算法，可实现对纳米至微米级表面形貌的高精度测量，覆盖光滑、粗糙、低反射至高反射等多样化材料表面。广泛应用于半导体、3C电子、汽车零部件、航空航天、MEMS器件等超精密加工领域，助力企业提升质量控制效率与产品研发能力。

CEM3000实验室台式扫描电镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析。台式结构节省空间，可置于桌面或狭小环境（如手套箱、车厢）。

NS系列半导体台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，可测量沉积薄膜的台阶高度、抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度等。

CEM3000系列高易用性扫描电镜高易用性快速成像、一键成片，无需过多人工调节。具有出色的电子光学系统，优于4nm的空间分辨率，保证了高放大倍数下的清晰成像，能够满足纳米尺度的形貌观测需求。

CEM3000抗振防磁扫描电镜可以进入手套箱、车厢还是潜水器等狭小空间内大显身手。即便在一些常规电镜难以耐受的工作环境中，该系列台式电镜也能凭借抗振防磁技术，展现出色的性能。也可通过加装各类探头和附件，满足用户的拓展性需求，这使其在材料科学、生命科学、纳米技术、能源等多个领域得到了广泛应用。