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中图仪器光学轮廓仪W系列采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高。能够以优于纳米级的分辨率，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

中图仪器SuperViewW1光学检测设备轮廓仪主要是用于测量表面形貌或测量表面轮廓尺寸，此外具有测量晶圆翘曲度的功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

中图仪器SuperViewW系列高精密光学轮廓仪由照明光源系统，光学成像系统，垂直扫描系统以及数据处理系统构成。以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

SuperViewW1半导体光学轮廓测量仪器用于表面形貌纹理，微观结构分析，用于测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等领域。是以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

SJ5760-PR轮廓尺寸测量仪器测量精度高，量程大，测量速度快，智能化应用与检定软件相结合，保护测针和测量系统，仪器操作灵活自如，可以大大提高测量工作效率。是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器。

中图仪器SJ5700尺寸轮廓测量仪具有精度高，量程大，测量速度快等特点。智能化应用与检定软件相结合，保护测针和测量系统，仪器操作灵活自如，可以大大提高测量工作效率。测量效率高、操作简单、适用于车间检测站或计量室使用。