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chotest国产光学轮廓仪基于白光干涉技术，分辨率达0.1nm，以3D非接触方式测量分析划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量等，覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域，兼容多种材质（透明、高反光、黑色等）。

SuperViewW高精度光学3D表面轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域，兼容多种材质（透明、高反光、黑色等）。

SuperViewW光学3D表面形貌特征轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

SuperViewW中图仪器光学三维轮廓仪系统具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW台式光学轮廓测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。不通倍率的镜头，适应于从超光滑到粗糙度各种表面类型的样品。

SuperViewW国产3D光学表面轮廓仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，从而获取反映器件表面质量的2D、3D参数。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。